JEM2100透射电子显微镜

仪器名称：透射电子显微镜

仪器型号：JEM2100

制造厂商：日本·日本电子（JEOL）

购置时间：2011年

放置地点：云南大学呈贡校区工程中心2栋2102

管理人：刘彦雄

联系方式：18788504455

主要技术指标：

1.晶格分辨率为0.14 nm；点分辨率为0.19nm
2.放大倍率误差小于等于±10%
3.样品漂移率(nm/min)：  ≤6.0  
4.极靴：高分辨
5.灯丝：六硼化镧
6.倾斜角：± 25⁰
7.光阑：高分辨物镜光阑和高反差物镜光阑
8.加速电压：80, 100, 120, 160, 200 kV
9.与CCD-camera实现一体化控制
10.与X-射线能谱仪(EDS)实现一体化控制

仪器功能：

1. 高分辨率图像观察

2. 微小领域内X射线分析（5B-92U）

3. 会聚电子衍射进行的晶体结构的精密分析

4. 可用于物理学，生物学相关的科学领域，病毒学，材料科学，纳米技术，半导体研究等。