仪器介绍

Regulus 8100冷场发射扫描电子显微镜

更新时间: 2024年06月14日 11:33 编辑: 业务办公室

仪器名称:冷场发射扫描电子显微镜

仪器型号: Regulus 8100

制造厂家: 日立(HITACHI

放置地点:云南大学呈贡校区工程中心2101

管理人:彭芳芝、刘拥军

联系方式:1898846591013700691756

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实际拍摄图:

1、不同电压下AU成像

2、stem像

1.设备用途:

1.1该设备为超高分辨扫描电子显微分析系统,主要用于纳米颗粒和粉末、纳米管及纳米线、塑料电子器件、玻璃基体材料、有机材料、金刚石薄膜、生物等等①材料微观表面的观察和表征,②材料微区的高分辨二次电子像、背散射电子像、STEM像。

1.2配有高性能x-ray能谱仪,可对材料微观表面进行定性定量成分分析。

2.技术规格

2.1 分辨率:0.8nm@15kV;  1.1nm@1kV; 0.8nm@STEM,背散射电子像:3.5 nm

2.2  放大倍率范围:201,000,000(底片模式)

2.3 能谱探测器:有效检测面积≥30mm2

2.4 分析元素范围:Be4~U92;

2.5 能量分辨率(Mn-Ka):优于133eV。

3.配有离子溅射仪:可选择溅射金、 铜、铬等多种靶材。